L’ensemble réfraction et réflexion permet la vérification des lois de Descartes à la traversée de deux milieux d’indices différents. Très robuste, le système donne des faisceaux très visibles qui permettent des mesures précises.
Source 635 nm (diode)
Classe Laser II
Centrage laser magnétique
Indice disque 1.55
Diam. disque 75 mm
Fixation disque Vissé
Structure Acier et aluminium
Graduation 90-0-90 (2 côtés)
Diam. Plateau 245 mm
Précision 1°
Alimentation 3V DC (fournie)
